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【小王子上新】SANKO山高電磁式膜厚儀 SL-200E

更新時間:2025-02-13      瀏覽次數:125

【小王子上新】我司近期推出產品SANKO山高電磁式膜厚儀 SL-200E


日本SANKO山高電磁式膜厚儀 SL-200E

測量范圍 0~500 μm

特征

模擬膜厚儀

非常適合測量小零件,高性能小型2極型:可以測量小地方和內部(定制)

該探頭體積小,適用于測量局部涂層的厚度,如平面和彎曲到圓棒、零件、復雜形狀和內部。

規格

測量范圍:0 至 500 μm

探頭:磁極/2極型,磁極直徑/φ2.5,尺寸/10(W)×17(H)×21(D)mm

尺寸:190 (W) x 90 (H) x 120 (D) 毫米

重量:1.8公斤

附件:標準板、AC適配器、肩包


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