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Cassification
日本表面檢查燈
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表面檢查燈重要性能指標解讀
選擇適合的表面檢查燈,需要綜合多方面因素考慮
表面檢查燈的正確使用及壽命分析
表面檢查燈在科研與技術研發(fā)中的作用
在實驗室環(huán)境中,40WLX強光燈可以用于多種實驗需求
產(chǎn)品展示/ Product display
超高亮度照明裝置表面檢查燈UIH-3D對對象物(※1)照射高亮度的光的話會發(fā)生振打現(xiàn)象,表面的傷和垃圾,內(nèi)部的異物和氣泡用目視能容易地確認。※1:半導體晶片、掩模玻璃、硬盤、液晶面板、鏡頭等!
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超高亮度照明裝置表面檢查燈UIH-3D
產(chǎn)品特點介紹:
點火監(jiān)視裝置(TAM系列)、超高亮度照明裝置(UIH-1、UIH-2、UIH-3)、半導體晶片截面形狀測量裝置(WEMS、VSSW)等測量裝置制造現(xiàn)場。
UIH-1C型規(guī)格
UIH-2D型規(guī)格
采用高亮度鹵素燈(100V 300W)。配備燈箱異常發(fā)熱時自動關閉功能。
UIH-3D型規(guī)格
采用高亮度鹵素燈(100V 650W)。配備燈箱異常發(fā)熱時自動關閉功能。
*1 為了保護燈泡,即使在主電源開關關閉的情況下,仍可通過風扇維持冷卻直至燈室內(nèi)溫度降至約 40℃ 以下的功能。
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